北京時(shí)代TT230整體涂層測厚儀介紹：


北京時(shí)代涂層測厚儀TT230是一種超小型的測量儀。時(shí)代TT230涂層測厚儀能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測量。TT230覆層測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。TT230氧化膜測厚儀體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

北京時(shí)代TT230整體涂層測厚儀 的主要功能

可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。
可對測頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO），標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）。存貯和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測量值。
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯(cuò)誤提示功能。

北京時(shí)代TT230整體涂層測厚儀技術(shù)指標(biāo)：
測量原理：渦流法
測量范圍：1～1250μm
測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點(diǎn)校準(zhǔn)）
　　　　　　　±[(1～3)%H+1.5] μm（二點(diǎn)校準(zhǔn)）

北京時(shí)代TT230整體涂層測厚儀標(biāo)配：
主機(jī)，標(biāo)準(zhǔn)片，基體，充電器